測試目的

測定絕緣材料在特(te)定頻率和溫(wen)度(du)下的介電常數（εr）和(he)介質(zhi)損耗角正切值(zhi)（tanδ），評估材(cai)料在高頻電場中的儲能能力和能量損耗特(te)性(xing)，確保(bao)其(qi)符合國家標準（GB/T系列）及國(guo)際標準（ASTMD150）的要求。

樣品制備

1.尺寸要求：

固體材料：厚度1±0.02mm，直(zhi)徑≥60mm（避免邊緣效應）。

薄膜材料：疊層至(zhi)總厚(hou)度≥0.5mm（GB/T5594.4要求）。

2.預處理：

清潔(jie)：用無水乙醇擦拭表面，去除污(wu)染物。

干燥(zao)：置于50°C真空烘箱中處理24小(xiao)時（ASTMD150要求濕度<30%）。

恒(heng)溫恒(heng)濕：在23±2°C、50±5%RH環境下平衡48小(xiao)時(shi)。

測試步驟（以硅(gui)橡膠為例）

1.電極安裝

采用接觸式電(dian)極(ji)（鍍金銅電(dian)極(ji)），施加(jia)5N壓力確保(bao)與樣品表面緊密接觸(chu)。

對于軟質材(cai)料(liao)（如硅橡膠），使用液態(tai)電極（導電銀(yin)漿）避免(mian)機械應力影響。

2.電容與損(sun)耗測量

設置LCR測(ce)試儀參數：

頻率：1kHz、10kHz、100kHz、1MHz（覆(fu)蓋GB/T1409全頻段(duan)）。

測試電壓(ya)：1Vrms（避免材料擊穿）。

記錄電容值（Cx）和損耗因數（D）。

3.介電常(chang)數計算

εr=frac

其中，(C0)為相同電極(ji)間距(ju)下(xia)的(de)空氣電容值(zhi)。

4.介質損(sun)耗角正切值（tanδ）

直接讀取(qu)LCR測試儀(yi)測得的損耗因數(shu)（D），即(ji)tanδ=D。

5.溫度依賴性測試（GB/T1693要求）

將樣品置(zhi)于(yu)恒溫箱中(zhong)，在20℃、25℃、80℃下分別(bie)測量(liang)εr和tanδ。